牙科频繁的X光检测增加脑膜瘤风险

    在美国，过去频繁接受牙科X光检测的人们在脑癌早期诊断中风险明显增加，近日刊登在杂志Cancer上的一篇研究报告中报道了这一结果，尽管牙科X光在很多时候很有必要，但是研究者的研究发现显示适度的X光检测对于个体来说还是很有必要的。

    电离辐射是引起脑膜瘤最主要的环境危险因子，而脑膜瘤在美国是最为频繁的脑癌初期的诊断。牙科X射线是主要的电离辐射来源。为了测定牙科X射线与脑膜瘤风险之间的关系，来自耶鲁大学的研究者Elizabeth Claus从2006年5月至2011年4月期间收集了年龄段为20-79之间的1433个进行疾病诊断的病人的相关信息，对照组为1350个没有经过脑膜瘤诊断的相似的人群。

    结果显示，患有脑膜炎的病人进行牙科X射线检测治疗的次数是对照组两倍以上，而且每个月进行牙科X检测的病人或者更为频繁的检测的病人相比对照更容易患上脑膜瘤。脑膜瘤增加的风险也和曲面体层X线机测试相关（这种测试就是对所有牙齿进行体外显影）。在早年结构过这样的检测或者更为频繁检测的病人更容易患上脑膜瘤，每年接受过多次这种检测的病人患上脑膜瘤的风险是对照组的2.7-3倍。

    研究者指出，相比过去，如今的牙科医生接受的辐射很少了。按照美国牙科协会的指导原则，儿童1-2年只需接受一次X射线检测，青少年1.5-3年接受一次检测，成年而每隔2-3年需要进行一次检测。早在2006年，牙科协会就指出了牙科X射线检测必须安全可靠，尤其是不能对病人产生负面影响，相信研究者的这项研究会给牙科的检测提供新的视野和建议。